技术优势:

1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；

2、元素分析浓度范围从<1ppm到100%；

3、多元素同时测量时间10-60秒；

4、可选多种进样器；

5、使用CCD相机进行样品成像；

6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；

7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；

8、多功能XRF应用软件；

9、薄膜厚度测量与镀层分析；

10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；

11、多语言支持；

12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；

13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；

14、设计紧凑，可以轻松移动；

15、低噪音、得益于智能温控风扇；

16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；

17、易于安装，更易于维护。