技术介绍

对于膜层厚度太薄的金属薄膜和介电薄膜，光学方法测量其厚度显得不是很可靠。kSA XRF 系统的推出主要就是为了解决该问题，它可以在线测量许多不同材料基底（例如：玻璃和太阳能电池组件）上的薄膜厚度。

设备详情

配备保护性定制框架外壳，放置X射线源和探测器。

该设备桥接了输送线，以便于设备安装和工厂用户对系统的访问。

当 X 射线源正在使用时，会有警示灯闪烁提示。

配备面板的前/后边缘光电检测器，用于触发设备自动启停。

柜式控制器提供数据处理及存储功能。

配备小型灯塔用于指示检测情况。