指通过失效点定位、电性测试、样品制备、物性失效测试等一系列手段寻找设计缺陷、诊断故障、验证失效机理的过程(电性失效分析、电性量测、PEM-CCD)
失效分析服务产品:半导体、材料、芯片、电阻、电容、电感、主动器件、分立器件、显示、光伏、印刷电路板等