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X射线残余应力分析仪-μ-X360s
 

优点:

 

更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量。

更:一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合,结果更。

更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。

更强大:具备区域应力测量功能,晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能。

 

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