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波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus Ⅳ
 

主要特点:

1. 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高
2. 配备全新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75
3. 重金属的高灵敏度分析-采用全新型光学系统
4. 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm
5. 完美的无标样分析-全新的SQX软件
6. 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

 

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