特点

高灵敏度XRF重金属分析仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升了元素精确定量水平，两项关键技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。

1 单色化聚集激发技术

        高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。

2  采用高性能SDD探测器

        硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、TOP计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今先进性能的SDD探测器，确保元素分析性能。

3   Fast FP算法

        (1) XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。

        (2) 基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。

4  优化镉元素检出能力

        镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度XRF重金属分析仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到前所未有的0.06mg/kg水平。

5 便携性

(1) PHECDA-PRO整机重量 8.7kg

(2) 无需气体、真空等辅助设备

(3) 可以保证现场检测要求