光学膜厚测量仪 -北京微纳光科自动化设备有限公司

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光学膜厚测量仪

一：测量厚度、折射率、反射率和穿透率：

单层膜或多层膜叠加

单一膜层

液态膜或空气层

二：不同条件下的测量，包括：

在平面或弯曲表面

光斑最小可达20微米

桌面式、XY坐标自动化膜厚测量，或在线配置

电话：010-61509982/61507993/61503404/61502440/61503494

传真：010-61569408 邮箱：sales@bjwn.cn

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